Determinación, mediante simulaciones computacionales, de la secuencia de apilado en estructuras compactas de capas

Pablo Serrano Alfaro, Ernesto Estevez-Rams

Resumen


Se trabaja en la obtención de la secuencia de apilado en estructuras compactas de capas (CPs), a partir de información contenida en el patrón de difracción de rayos x. Este problema solo se había abordado anteriormente de forma analítica y su solución exacta es intratable para secuencias reales. Con este fin se emplea un algoritmo de búsqueda meta-heurística para problemas de optimización global: simulated annealing. Se tomó como entrada del problema las funciones de correlación de capas, las cuales son extraídas del antes mencionado patrón de difracción en muestras policristalinas. Para reducir la complejidad computacional del problema se tienen en cuenta una serie de aspectos que pasan por áreas como la cristalografía teórica y la computación de alto rendimiento (generación de politipos). Se hace una revisión de magnitudes importantes dentro de este tema, como son, la longitud de correlación y la matriz de correlación. Se han validado los resultados obtenidos mediante secuencias sintéticas generadas en un amplio rango de tipos, y proporción de defectos planares. Se muestran partes de estos resultados, haciendo énfasis en algunos tipos de estructuras compactas de capas ampliamente conocidas como son las: fcc, hcp y dhcp.


Palabras clave


estructuras compactas de capas, simulated annealing, funciones de correlación de capas, longitud de correlación, polytypes

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